X熒光光譜儀在銅合金分析檢測方面的應用方案。X熒光光譜合金分析儀是檢測國家標準銅及合金中主成份和雜質元素的分析方法，利用XRF原理解決復雜物質化學分析是X熒光光譜儀的基本功能
X熒光光譜合金分析儀用于各種金屬材料中各種化學元素的精確成分分析。用于原材料檢驗，冶煉生產過程成分控制，成品元素成分定值及其它特殊應用,以檢測銅合金的爐前快速分析和成品分析，控制銅合金中的各成分含量，從而在滿足客戶的技術要求下控制銅的含量以降低生產成本。
X熒光技術的主要特征為：利用低能量X射線照射測試樣品，試樣中的一些原子將發射具用自身特征X射線熒光，從而識別這些元素，同時無損檢測其含量。天瑞儀器光譜儀采用現代較先進的角度照射及準直器和濾光片自動組合系統，實現了分析光譜的全譜分析。特殊設計的激發光源，使金屬材料的成份分析進入了一個新的時代。卓越的分析性能、極短的分析時間、極低的運行維護成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡單易行。可以廣泛適用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。天瑞儀器EDX3600B是當今金屬分析的較佳選擇，同時可以輕松面對未來分析的更高要求，不添加任何硬件設施，即可升級分析功能，方便靈活地隨生產發展的需要增加分析的元素及合金種類。
EDX4500X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、準確分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更準確，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量較薄至0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：60s—200s
能量分辨率為：（150±5）eV
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
精準的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測
水泥檢測
礦料分析
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