天瑞儀器edx1800b產品詳細技術資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產品報價和說明。一鍵式設計的xrf測試儀器被廣泛應用于rohs指令的有害物質含量測試和分析，無需化學前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
x熒光光譜儀xrf是天瑞儀器公司為合金測試開發的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合得獎號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態為固體、液體、粉末等。

應用領域
RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
主要用于RoHS指令相關行業、貴金屬加工和飾加工行業；銀
行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復性0.05%·穩定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環境狀態下相等
性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護

熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產生與特性當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜，簡稱為連續潛或韌致。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發，則當外層電子躍遷時，會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。

根據優化產品性能和提高防護等級的需求，特別設計該款EDX0B。應用新一代的高壓電源和X光管，提高產品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。
性能特點
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用
平臺：精細的手動平臺，方便定位測試點
高分辨率探測器：提高分析的準確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率
ROHS檢測儀相關基礎術語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復性
定義為儀器測同一款樣品的連續測試十一次或二十一次的相對標準偏差。
3.準確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數統計誤差
在放射性物質的測量中，假設儀器穩定性、機械在現性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數統計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數器上的光子變成脈沖后計數而得到的。因而計數值在本質上具有統計誤差。 被測X射線的計數值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N叫統計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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