天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢(xún)江蘇天瑞儀器股份有限公司銷(xiāo)售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無(wú)需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
工作原理
X熒光光譜ROHS檢測(cè)儀工作原理是由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X 射線（一次射線），激勵(lì)被測(cè)樣品。樣品中的每一種元素會(huì)放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將控測(cè)系統(tǒng)所收集的信息轉(zhuǎn)換成樣品中的各種元素的種類(lèi)及含量。利用X射線熒光原理，測(cè)試出待測(cè)產(chǎn)品的元素含量。

產(chǎn)品特點(diǎn)
快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘
無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然
環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水

ROHS檢測(cè)儀流線型人機(jī)設(shè)計(jì)，保障您的操作，機(jī)操作指示燈，帶您體驗(yàn)舒適操作新概念，光管良好的屏蔽作用，，性能穩(wěn)定可靠，
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護(hù)。

分辨率：
采用硅漂移探測(cè)器 ，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測(cè)鉑金中銥和金的含量。
度，性能優(yōu)：
使用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計(jì)數(shù)率可達(dá)8萬(wàn)，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業(yè)級(jí)相機(jī)，樣品圖像更加清晰，輕松實(shí)現(xiàn)定位。
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話說(shuō)，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱(chēng)為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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