XRF產品原理和參數詳細介紹，XRF技術說明和資料請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供XRF光譜儀報價和培訓手冊。XRF由于無需化學前處理，快速分析，一鍵測試操作簡單的特點，以及適用范圍廣德優勢深受實驗室人員的歡迎。
國產XRF測試儀EDX3600K配置：
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互立的基體效應校正模型
國產XRF測試儀技術參數：
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配速探測器低至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，低檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
數據傳輸：數字多道技術，快速分析，高計數率
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：特的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動
數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環境濕度：≤90
操作環境溫度：15℃～30℃

正是由于各個行業對XRF的不同需求，導致了XRF儀器從“單一”走向“專一”。比如應用于糧食行業重金屬檢測的XRF，雖然需要測試的元素與RoHS檢測的元素一致，但其要求精度更高，因此無法使用RoHS檢測儀去檢測糧食中的重金屬元素。所以，在天瑞儀器2010年上市后，針對各個行業應用領域，開發了不同型號的產品，截止目前，天瑞儀器的XRF產品已達幾十種，每個領域幾乎都開發了二到三款產品，覆蓋低、中、，可供該行業的客戶選擇。例如在RoHS行業中，天瑞儀器就研制了EDX1800B、EDX1800BS、EDX1800E、 EDX1800BH、EDX4800H等型號，還有便攜式的EXPLORER3000型可用于原位查驗；在貴金屬行業中公司有EDX600 PLUS、EDX3000、EDX3000 PLUS、EDX6800等產品；而糧食行業中天瑞儀器也開發了EDX3200S PLUS、EDX3200S PLUS C、EDXX3200S PLUS D、 EDXX3200S PLUS X等型號；不僅如此，公司還研發了應用于地礦行業的EDX3600H系列、應用于石油石化行業的EDX5500H系列、針對電渡行業的THick600系列、應用于環境土壤行業的EXPLORER9000系列等；還有應用于水泥和耐材等行業的波散XRF，從固定道的WDX200、WDX400擴展到了順序道的WDX4000等，以及應用于其他行業的儀器等。

XRF優點、缺點
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
缺點
a）難于作分析，故定量分析需要標樣。
b）對輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

性能特點
超薄窗X光管，指標達到國際水平 
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比 
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭 
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
EDX4500P技術參數
產品型號：EDX 4500P
產品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
測量時間：30秒-200秒 
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV 
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃ 
環境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
EDX4500P標準配置
超薄窗X光管 
SDD硅漂移探測器 
數字多道技術
光路增強系統 
高信噪比電子線路單元 
內置高清晰攝像頭 
自動切換型準直器和濾光片 
自動穩譜裝置 
三重保護模式 
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵
EDX4500P應用領域
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素、紅磷管控）
EDX 4500P  X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對ROHS重金屬元素以及磷元素進行快速、準確、無損分析。
紅磷作為阻燃劑來管控，雖然暫時并未納入RoHS管控，但是目前限于市場要求，很多國際客戶如松下、索尼、三星、LG、海爾等都對此對紅磷要求。我司推出一款針對ROHS+無鹵+無磷儀器EDX4500P.該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
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