XRF產(chǎn)品原理和參數(shù)詳細(xì)介紹，XRF技術(shù)說明和資料請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供XRF光譜儀報(bào)價(jià)和培訓(xùn)手冊(cè)。XRF由于無需化學(xué)前處理，快速分析，一鍵測(cè)試操作簡(jiǎn)單的特點(diǎn)，以及適用范圍廣德優(yōu)勢(shì)深受實(shí)驗(yàn)室人員的歡迎。
X熒光光譜儀用于各種金屬材料中各種化學(xué)元素的成分分析。用于原材料檢驗(yàn)，冶煉生產(chǎn)過程成分控制，成品元素成分定值及其它應(yīng)用,以檢測(cè)銅合金的爐前快速分析和成品分析，控制銅合金中的各成分含量，從而在滿足客戶的技術(shù)要求下控制銅的含量以降低生產(chǎn)成本。
該技術(shù)的主要特征為：利用低能量X射線照射測(cè)試樣品，試樣中的一些原子將發(fā)射具用自身特征X射線熒光，從而識(shí)別這些元素，同時(shí)無損檢測(cè)其含量。天瑞儀器光譜儀采用現(xiàn)代的角度照射及準(zhǔn)直器和濾光片自動(dòng)組合系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了分析光譜的全譜分析。設(shè)計(jì)的激發(fā)光源，使金屬材料的成份分析進(jìn)入了一個(gè)新的時(shí)代。的分析性能、短的分析時(shí)間、低的運(yùn)行維護(hù)成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡(jiǎn)單易行?？梢詮V泛適用于銅合金、鋁合金、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。天瑞儀器EDX3600B是當(dāng)今金屬分析的選擇，同時(shí)可以輕松面對(duì)未來分析的更高要求，不添加任何硬件設(shè)施，即可升級(jí)分析功能，方便靈活地隨生產(chǎn)發(fā)展的需要增加分析的元素及合金種類。

X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對(duì)復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性； 利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增應(yīng)得到明顯的消除。
性能特點(diǎn)
的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測(cè)和RoHS檢測(cè)。
內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍。
針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片。
電制冷UHRD探測(cè)器，摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。

國(guó)產(chǎn)XRF測(cè)試儀EDX3600K配置：
鈹窗電制冷SDD探測(cè)器
自旋式樣品腔
超薄窗X光管
信噪比增強(qiáng)器SNE
超近光路增強(qiáng)系統(tǒng)
可自動(dòng)開啟的測(cè)試蓋
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
真空腔體
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數(shù)字多道技術(shù)
多變量非線性回歸程序
相互立的基體效應(yīng)校正模型
國(guó)產(chǎn)XRF測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍：原子序數(shù)為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測(cè)量
檢測(cè)元素：同時(shí)分析元素達(dá)三十多種，可根據(jù)客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99
檢測(cè)時(shí)間：10秒以上
檢測(cè)對(duì)象：標(biāo)準(zhǔn)粉未壓片及可以放入標(biāo)準(zhǔn)樣品杯的固體、液體及粉末
探測(cè)器及分辨率：超大超薄的SDD探測(cè)器，分辨率 為144±5eV,可選配速探測(cè)器低至125eV
激發(fā)源：銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測(cè)井環(huán)境：超真空系統(tǒng)，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準(zhǔn)直器和濾光片：四組準(zhǔn)直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動(dòng)切換
自旋裝置：可調(diào)速的自旋裝置
檢出限：對(duì)樣品中的大多數(shù)元素來說，低檢出限達(dá)5～500ppm
真空系統(tǒng)：超真空系統(tǒng)，10秒可到10Pa
數(shù)據(jù)傳輸：數(shù)字多道技術(shù)，快速分析，高計(jì)數(shù)率
測(cè)試臺(tái)：360°電動(dòng)旋轉(zhuǎn)式
保護(hù)系統(tǒng)：樣品腔為電動(dòng)控制，上蓋打開時(shí)測(cè)試已完成
樣品放置：特的樣品杯設(shè)計(jì)，自帶壓環(huán)，可防止樣品晃動(dòng)
數(shù)字多道技術(shù)：計(jì)數(shù)率>50kcps，有效計(jì)數(shù)率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環(huán)境濕度：≤90
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

國(guó)產(chǎn)XRF測(cè)試儀EDX4500性能優(yōu)勢(shì)：
1.能量分辨率，輕元素檢測(cè)效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測(cè)器，探測(cè)器分辨率低達(dá)到139eV，各項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)。SDD探測(cè)器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有良好的分析精度。
2. 測(cè)試精度更高，檢出限更低
①化的樣品腔設(shè)計(jì)，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能有效的測(cè)定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測(cè)試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計(jì)，保證測(cè)試時(shí)達(dá)到10Pa以下，使設(shè)備的測(cè)試范圍可從F元素起測(cè)試，大大地提高測(cè)試范圍、輕元素檢出限和精度。
3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結(jié)果
采用的數(shù)字多道技術(shù)，其大線性計(jì)數(shù)率可達(dá)100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒可以得出定性定量結(jié)果，
設(shè)計(jì)成高計(jì)數(shù)率，大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。
4. 一鍵式智能化操作
軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作，使操作簡(jiǎn)易，對(duì)操作人員限制小的特點(diǎn)。
5. 強(qiáng)大的自動(dòng)化功能
①自動(dòng)化程度高，具有自動(dòng)開蓋、自動(dòng)切換準(zhǔn)直器與濾光片等功能。
②采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。
6. 強(qiáng)度校
具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
7. 完善的光路系統(tǒng)
的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。
8. 三重防護(hù)功能
三重防護(hù)功能，自動(dòng)感應(yīng)，沒有樣品時(shí)儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護(hù)測(cè)試壁；配送測(cè)試防護(hù)罩。
9. 警示系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng)，通電時(shí)綠色指示燈亮，測(cè)試時(shí)指示燈閃爍，防止誤操作。
EDX4500P應(yīng)用領(lǐng)域
合金檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素、紅磷管控）
EDX 4500P  X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)ROHS重金屬元素以及磷元素進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。
紅磷作為阻燃劑來管控，雖然暫時(shí)并未納入RoHS管控，但是目前限于市場(chǎng)要求，很多國(guó)際客戶如松下、索尼、三星、LG、海爾等都對(duì)此對(duì)紅磷要求。我司推出一款針對(duì)ROHS+無鹵+無磷儀器EDX4500P.該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。 另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
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