天瑞儀器edx1800b產品詳細技術資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產品報價和說明。一鍵式設計的xrf測試儀器被廣泛應用于rohs指令的有害物質含量測試和分析，無需化學前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
熒光光譜儀是一種波長較短的電磁，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。臺式x熒光光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家組成，得到物質成分的定性和定量信息。
特征臺式x熒光光譜儀的產生與特性當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜，簡稱為連續潛或韌致。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發，則當外層電子躍遷時，會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。

分辨率：
采用硅漂移探測器 ，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
度，性能優：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器技術，提高分析速度，總體提高系統處理能力，計數率可達8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現定位。

儀器應用領域優勢：
設備可以有效的對檢測、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩等重金屬污染：精度分析，微量金屬元素成分盡在掌握，選用自主研制的數字多道及原裝進口分辨率探測器，提高設備的穩定性及元素之間的相互干擾，并提高了元素的檢出限。

解讀RoHS指令和WEEE指令
2003年2月13日，歐盟公布了《關于報廢電子電氣設備的指令》（2002/96/EC,簡稱WEEE）和《關于電子 電氣設備中限制使用某些有害物質的指令》（2002/95/EC,簡稱RoHS）,規定從2005年8月13日起實施WE EE的生 產者責任，從2006年7月1日起在相關電子電器中禁止使用六種有害物質。有害物質元素 Cd Pb Hg Cr6+ PBBS PBDES  Cl Cl+Br
ROHS檢測儀相關基礎術語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復性
定義為儀器測同一款樣品的連續測試十一次或二十一次的相對標準偏差。
3.準確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數統計誤差
在放射性物質的測量中，假設儀器穩定性、機械在現性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數統計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數器上的光子變成脈沖后計數而得到的。因而計數值在本質上具有統計誤差。 被測X射線的計數值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N叫統計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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