儀器技術指標：
1、分析元素范圍 ： 從硫（S）到鈾（U）
2、測試對象：固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍：1ppm—99.99 
4、同時分析元素：幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互的基體效應校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復性可達：0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃  
10、工作濕度：≤70  
11、工作電壓：220V AC
12、樣品腔尺寸：*100mm
13、儀器尺寸：212*258*258mm
14、儀器重量：5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調

儀器配置：
1、探測模塊：Si-PIN
2、X射線源：40kV、100uA
3、準直器：Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動切換
4、濾光片：內置Al Ti Cu
5、樣品腔：下照式，
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA，軟件安裝在Microsoft Windows CE系統操作靈活簡單，很好的支持PDA系統升級和軟件升級
7、指示和警告：電源指示燈，輻射警告燈
8、保護系統：上蓋打開時，高壓自動關閉
9、樣品放置：配萬向測試支架，隨心放置各種樣品
10、報告輸出：藍牙打印
11、安全防護箱：400*300*350mm，4.5kg

應用領域
主要應用黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm

本產品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術和經驗基礎之上研發的新型高端測試儀，采用新一代探測器及多道技術，實現超高計數率，1秒出結果，準確分析貴金屬含量。同時，具備二維平臺及高清工業攝像頭，實現樣品定位。（可對99.99黃金進行有效分析）

性能特點

快,1秒鐘出結果
1、采用行業先進的極速探測器技術——（SDD）分辨率至125eV
優勢：探測面積大（面積達25m㎡）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
2、采用行業先進的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及先進的準直濾光系統
優勢：使貴金屬的激發效率更高
4、光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統
超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點

多點測試
2D全自動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試

超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
可高效區分99.9及99.99黃金純度
可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設計
更安全：X射線聯動安全裝置----光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態；同時可以實現預約關機，關機前可設定聲光提示

技術參數

測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
元素含量分析范圍：2ppm～99.99
探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV
管流：≤1000uA
管壓：5～50kV
測量時間：1s或以上(可調)
濾光片：4種濾光片切換
準直器：8種準直器自動切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70
環境溫度：15℃～30℃
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源

儀器配置

SDD探測器
數字多道分析系統
X射線源
高低壓電源
準直器濾光片系統
精密平臺
光閘系統
樣品觀測系統

ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們如何說?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關)。所以這條上應該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應會比較嚴重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標樣和樣品處理需要配套的制樣設備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結果沒有ICP測試儀好，就算有標樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應用于溶液中化合物離子的含量分析。多數認為XRF測試儀在表面化學分析方面很準，但是必須購買對應的標準品，用來繪制標準曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結果的準確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當、曲線配置好的話，結果也會相當準。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!
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