合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV

XRF分析儀器是利用X射線無損檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到0CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

技術參數

產品型：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35-70
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）

更準確的檢測結果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優質的服務。全新開發研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環保五大特點，采用分析儀器行業先進的極速探測器技術（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產品精密的定位系統，可實現圖像聯動控制，多點連續測試。新增加電動開發的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

性能優勢

快—1秒鐘出結果
采用行業先進的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率至125eV
優勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業先進的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率可達1000Wcps
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統
優勢：激發效率更高
光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
人性化的設計
更安全：X射線聯動安全裝置——光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態；同時可以實現預約關機，
關機前可設定聲光提示

技術參數

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70
環境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
更準確的檢測結果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優質的服務。全新開發研制的EDX 9000正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準確、快速、無損、直觀及環保五大特點，采用分析儀器行業先進的極速探測器技術（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器專利產品精密的定位系統，可實現圖像聯動控制，多點連續測試。新增加電動開發的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

性能優勢

快—1秒鐘出結果
采用行業先進的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率至125eV
優勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業先進的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率可達1000Wcps
采用大功率X光管及先進的準直濾光系統
優勢：激發效率更高
光閘系統
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
人性化的設計
更安全：X射線聯動安全裝置——光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態；同時可以實現預約關機，
關機前可設定聲光提示

技術參數

測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9
穩定性：0.02
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70
環境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
秉承X熒光光譜儀20多年研發經驗，天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發展。將Ｘ射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術的獨到之處在于：通過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性，再通過巖性的組合特征分析來判斷層位，因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。

高效真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對巖心中的元素具有超低的檢出限，為錄井平臺提供更有意義的具體數據特征；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求；同時引入了目前先進的4096道數字多道技術，采用進口超薄鈹窗有高激發效率的X射線管，使儀器計數率更高，穩定性更好，適用面更廣；

優化了光路結構、軟硬件可靠性，真空腔體使之性能更好、更便攜；

獨特的抗震性設計，高保護光路設計使得該儀器通過了第三方權威機構高低溫、高低頻電動振動及濕熱等使用認證；

在現場測試、在線檢測以及各類地質勘察多元素檢測中充分發揮作用。



主機標準配置：

上照式光路系統直射模式 SDD探測器 數字多道處理器 美國進口高壓

進口牛津鈹窗X射線管 智能測試軟件 校正模塊內置 封閉式定向散熱系統

高阻尼可動防震緩沖支腳 定制CCD高清攝像頭

整套設備包括: Ｘ熒光分析主機、電腦、打印機、粉碎機、壓片機、真空泵



錄井行業應用案例

l 巖心成份普查：

僅需簡單前處理，微量多種元素成分盡在掌握。



l 現時分析

能快速、現場追蹤巖心數據，圈定油氣邊界。單個樣品30多種元素測試僅需1~4分鐘；



l 現場分析

獨特的減震、超小的真空腔、超穩固樣品靜態控制結構設計使儀器可以應對各種現場環境的檢測任務；



儀器性能優勢：

儀器外形小巧，簡潔大方，可用于車載和實驗室，使用方法簡單，測試效率高；

測試時上照式光路設計加上真空測試腔有效杜絕現場環中粉塵對探測器的污染；

準直器極大化設計使樣品受激光斑達mm2 保證測試的豐富性，提高測試度

封閉式定向風冷散熱保證X射線管工作溫度穩定，延長X射線管壽命；

分析樣品速度快，快可達60S，并且可同時分析40種元素；

高阻尼可動支腳防震設計加上超穩真空控樣設計保證了每一個樣品與光管、探測器幾何關系時刻相一致，屏蔽現場震動所造成的影響；

大面積厚晶體SDD探測器，配上RhX光管以及良好的散熱性，有力地確保測試高效穩定；

X射線屏蔽設計和高材料及安全聯動裝置有效保證無輻射外漏，讓測試人員安全放心使用；

ICP測試儀和XRF測試儀哪個更適合?選ICP測試儀還是XRF測試儀?這恐怕對于工作內容主要做催化劑的原料和成品的金屬含量分析的實驗員來說，是很容易出現的疑問了。如果從購置價格、使用成本和方便程度、分析結果可靠性等幾個方便，到底哪種方法更勝一籌?XRF測試儀除了被用來進行材料表面的定性檢測，可用來測量元素的總含量嗎?準確嗎?ICP測試儀檢測是僅僅對元素進行表面定性分析嗎?它跟XRF測試儀有什么區別?針對這些疑問，看看七嘴八舌的們如何說?你挺誰?XRF測試儀不但在元素定性上有ICP測試儀無可比擬的優點，同時在定量上同樣可以和任何一種元素分析儀器相媲美(和制樣有關)。所以這條上應該是XRF測試儀和ICP測試儀都可以定量。A：XRF測試儀，樣品基本不用前處理，而用ICP測試儀，樣品需要進行化學處理為溶液。對于XRF測試儀來說，樣品的前處理有很大的技巧性。塊狀金屬，基本上磨一下測量面就可以了，非塊狀樣品如果采用壓片法那就要求你磨至一定的粒度以下，要不粒度效應會比較嚴重。采用熔融法肯定是處理樣品的一種方式了，只不過形成的是一種固體溶液。而ICP測試儀毫無疑問必須溶成溶液。B：XRF測試儀可以迅速定性，元素定性方面無人能比，像紅外在有機官能團定性一樣迅速。定量方面，相比看來ICP測試儀定量較為簡單實在，易于操作。XRF測試儀做標樣和樣品處理需要配套的制樣設備，包括壓片機和熔樣爐等，不易操作。但是不能下XRF測試儀不能定量的結論，相對于測純金屬、合金含量分析，我認為XRF測試儀是比ICP測試儀更合適!我們實驗室就是把XRF測試儀+ICP測試儀配合起來用，利用XRF測試儀定性優勢配合ICP測試儀前處理及基體匹配，從而做到定量方便快捷。C：這個要看你的待測組分的含量和你的測試要求了，畢竟這兩臺儀器的各有各的優勢和缺點。我建議買一臺EDXRF測試儀就夠了，能快速無損定性半定量。你送出去測試前做一次心里有個底，找個靠譜的通過CNAS認證的實驗室做一下，基本問題不會很大，真的要購買儀器的話這個真心沒有底。有的公司就為了測催化劑中的氯買了一臺40W美元的WDXRF測試儀。D：請果斷選擇ICP測試儀，雖然價格和使用程度上來說相對困難，但是結果可靠性比XRF測試儀高出光年倍。E：XRF測試儀定性分析還是比較方便，但是定量的結果沒有ICP測試儀好，就算有標樣進行校正也存在誤差;但是ICP測試儀比較適合微量分析，主體成分的話容易帶入稀釋誤差。F：如果是測液體中的金屬離子含量用ICP測試儀當然很好，但是只適用于微量元素，含量較好的測不出來，如果采用稀釋的方法也可以，但是誤差會增大，這個要看你要求的測量精度了!G：都很準的啊，但看具體元素了，一般XRF測試儀主要測固體粉末，ICP測試儀測能溶的固體和液體!H：XRF測試儀是檢測物質中各種氧化物和元素的含量，以及成分分析。ICP測試儀一般應用于溶液中化合物離子的含量分析。多數認為XRF測試儀在表面化學分析方面很準，但是必須購買對應的標準品，用來繪制標準曲線。此外，XRF測試儀的樣品需要前處理的，也必須滿足很多條件，比如表面光滑、成分均勻才能保證結果的準確。比如粉碎或者融片之類的，都是為了讓成分均勻。而ICP測試儀測溶液中的PPM級的元素含量。如果保證操作得當、曲線配置好的話，結果也會相當準。所以說沒有不好的分析方法，只有不適合的分析方法，看了這么多的觀點，您應該知道自己在面對ICP測試儀和XRF測試儀時該選擇哪種方法了吧!
合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）
天瑞儀器公司為合金測試專門開發的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合金牌號分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態為固體、液體、粉末等。
性能特點:
高效超薄窗X光管
針對合金的測試而開發的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Pb、S等微含量元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性；


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